Просмотр запроса №53014
Здравствуйте, уважаемые сотрудники библиотеки!
Прошу Вас сделать уточнение выходных данных статьи:
Петров А. С., Медведев Ю. В. СВЧ-резонаторные методы измерения параметров полупроводников // Контроль качества полупроводниковых материалов : (Доклады, представленные на Междунар. симпозиум по метрике полупроводников СССР, дек., 1974 г. - М., 1976
С уважением, Наталия
Прошу Вас сделать уточнение выходных данных статьи:
Петров А. С., Медведев Ю. В. СВЧ-резонаторные методы измерения параметров полупроводников // Контроль качества полупроводниковых материалов : (Доклады, представленные на Междунар. симпозиум по метрике полупроводников СССР, дек., 1974 г. - М., 1976
С уважением, Наталия
Ответ
[2024-09-16 18:58:23] :
Здравствуйте!
Петров А.С. СВЧ-резонаторный метод измерения неоднородности параметров полупроводниковых материалов / А.С. Петров, Ю.В. Медведев // Контроль качества полупроводниковых материалов : (доклады, представл. на Междунар. симп. по метрике полупроводников СССР, дек. 1974 г.). – 1976. – Вып. 4. – С. 173-181.
Петров А.С. СВЧ-резонаторный метод измерения неоднородности параметров полупроводниковых материалов / А.С. Петров, Ю.В. Медведев // Контроль качества полупроводниковых материалов : (доклады, представл. на Междунар. симп. по метрике полупроводников СССР, дек. 1974 г.). – 1976. – Вып. 4. – С. 173-181.